Defeitos do iPhone após um ano aconteceram em 5,6% dos casos, comparados com os 11,2% do RIM BlackBerry e 16,2% do Palm Treo, segundo empresa fornecedora de extensões de garantia.
“O iPhone é duas vezes mais confiável que o BlackBeryy após um ano, descobriu novo estudo da SquareTrade. A SquareTrade, que vende garantia extendida para celulares e outros aparelhos, pesquisou as taxas de defeitos de 15 mil aparelhos cobertos por seus planos. Os defeitos do iPhone após um ano aconteceram em 5,6% dos casos, comparados com os 11,2% do BlackBerry e 16,2% do Treo”, relata Erick Schonfeld em artigo publicado no MobileCrunch.
Segundo ele, o estudo projeta a taxa de defeitos que o iPhone vai apresentar após dois anos e obtém resultado entre 9,2% e 11,3%, comparados aos 14,3% atuais do BlackBerry e 21% do Treo.
“Surpreendentemente, a bateria não é problema no iPhone tanto quanto nos aparelhos das outras duas marcas. Menos de 0,5% dos defeitos no iPhone foram causados pela morte da bateria, comparados ao cerca de 1% no caso do BlackBerry e [Treo]. O iPhone também tem menos problemas de qualidade que ou outros dois. O maior problema para todos os três aparelhos são os defeitos envolvendo a tela sensível a toque ou o teclado. No caso particular do iPhone, essa é uma área que precisa ser trabalhada. De acordo com o estudo, ‘um terço de todos os problemas relatados no iPhone tinham relação com a tela’. Muitos desses casos eram de telas mortas no modelo 2G antigo, mas o 3G têm seus próprios problemas na tela”, diz Schonfeld.
Mas a causa mais provável de defeito no iPhone está relacionada a acidentes, diz ele. “12% dos defeitos no iPhone são causados por queda, derramamento de café ou por não ter sido tratado como o computador delicado que é. Isso se compara aos 9% das falhas devidas a acidentes nos outros aparelhos e é o dobro dos defeitos de outra natureza”.
Mais detalhes, incluindo gráficos comparativos e o resulado completo do estudo, no artigo completo de Schonfeld.
Artigos relacionados
Fuja do lugar comum: venha para o AppleMania!
Loading ...
Posts (RSS)